6分鐘前 透射電鏡能譜檢測服務值得信賴「多圖」[科銳諾44070b2]內容:在放大倍數較低的時候,TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。而當放大率倍數較高的時候,復雜的波動作用會造成成像的亮度的不同,因此需要知識來對所得到的像進行分析。通過使用TEM不同的模式,可以通過物質的化學特性、晶體方向、電子結構、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。臺TEM由馬克斯·克諾爾和恩斯特·魯斯卡在1931年研制,這個研究組于1933年研制了臺分辨率超過可見光的TEM,而臺商用TEM于1939年研制成功。
柵極位于陰、陽極之間,靠近燈絲頂端,為形似帽狀的金屬物,中心亦有一小孔供電子束通過。柵極上加有0~1000V的負電壓(對陰極而言),這個負電壓稱為柵偏壓VG,它的高低不同,可由使用者根據需要調整,柵極偏壓能使電子束產生向中心軸會聚的作用,同時對燈絲上自由電子的發射量也有一定的調控抑制作用。
工作原理 ,在燈絲電源VF作用下,電流IF流過燈絲陰極,使之發熱達2500℃以上時,便可產生自由電子并逸出燈絲表面。加速電壓VA 使陽極表面聚集了密集的正電荷,形成了一個強大的正電場,在這個正電場的作用下自由電子便飛出了電子外。調整VF可使燈絲工作在欠飽和點,電鏡使用過程中可根據對亮度的 需要調節柵偏壓VG的大小來控制電子束流量的大小。